W programie:
- Wpływ papieru na jakość druku offsetowego – dr hab. inż. Stefan Jakucewicz
W wykładzie zostaną przedstawione cechy różnicujące papier stosowany do drukowania offsetowego ze względu na jego powierzchnię, sposób wykończenia powierzchni, chłonność powierzchniową oraz skład włóknisty.
- Nowe standardy w pomiarach spektrofotometrycznych – mgr inż. Andrzej Kunstetter
W prezentacji zostanie przedstawiony sposób uwzględniania w pomiarach spektrofotometrycznych krótkofalowej części widma. Zawartość wybielaczy optycznych w większości podłoży stosowanych do drukowania powoduje konieczność uwzględnienia tego zjawiska. Wiąże się to niekiedy z niekompatybilnością pomiarów wykonanych sprawnymi i poprawnie wycechowanymi przyrządami pomiarowymi.
- Standardy kolorymetryczne w drukowaniu offsetowym – dr inż. Konrad Blachowski
Podczas wystąpienia przedstawione zostaną główne właściwości odbitek nakładowych zawarte w normie ISO 12647-2 dotyczącej procesu drukowania offsetowego na różnych podłożach. Dodatkowo zostaną omówione pliki opublikowane przez Instytut FOGRA zawierające dane do charakteryzacji kolorymetrycznej procesu drukowania offsetowego na różnych podłożach, nominalnie zgodne ze wspomnianą normą. Poruszony zostanie również temat „standardowych” profili ICC i ich wykorzystania podczas przygotowywania cyfrowych materiałów źródłowych dla offsetu.
- Nowe podejście do prognozowania naddatków w drukowaniu offsetowym na różnych rodzajach papieru – mgr inż. Jacek Hamerliński
W referacie zostaną podsumowane stosowane obecnie metody prognozowania naddatków w drukowaniu offsetowym oraz ich wady w przypadku stosowania nowoczesnych maszyn offsetowych wyposażonych w układy automatyki. Zaproponowana przez autora nowa metoda może być zastosowana do prognozowania naddatków w oparciu o dane z przeszłości, bądź też użyta jako źródło danych w systemach SKJ i zarządzania jakością.

Po każdym z wykładów (jak i po ich zakończeniu) będzie możliwość zadawania pytań i dyskusji.

Koszt uczestnictwa dla jednej osoby (wykłady, materiały, lunch, certyfikat): 320 zł.
Koszt dla członków SAIP PW: 240 zł.
Przy zgłoszeniu (potwierdzonym przez SAIP) do 17 lutego – cena promocyjna: 270 zł.
Wpłaty (koszt uczestnictwa zgodnie z dniem rejestracji należy uiścić najpóźniej do 2 marca włącznie) przelewem na konto: Stowarzyszenie Absolwentów Instytutu Poligrafii PW Warszawa, ul. Konwiktorska 2. Konto w Alior Bank; numer konta: 27 2490 0005 0000 4500 3331 8422.
Pełna informacja i Karta zgłoszenia jest dostępna na stronie www.absolwencipoligrafii.org
Ilość miejsc ograniczona.
Osobom zapisanym zostanie wysłana, ok. 6 dni przed terminem konfrontacji, agenda i plan dojazdu z możliwością zaparkowania samochodu osobowego.
Uczestnicy konferencji są proszeni o zabranie ze sobą wizytówek i rejestrację przed konferencją.
Następne konfrontacje, na temat: dotacje na innowacje w poligrafii 2014–2020, odbędą się 22 maja br.